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JDSU OTN 光谱分析仪 | 波分测试仪

产品分类:
显示器件/其他显示器件

产品介绍

可以使OTN测试方案能够根据ITU-T的 G.872G.806G.798G.709G.7710G.808.1G.873.1G.959.1标准,国家标准、信息产业部行业标准有关内容制订。适用于华为、中兴和烽火公司的OTN设备工程验收测试。

本测试方案需的使用仪表有:光谱分析仪 、10G SDH/OTN测试仪 、光功率计、光衰减器 、千兆/10GE以太网分析仪。
光谱分析仪(OSA)FTB-5240B具有高分辨力、高精度,是设计用来测试超密集的WDM使用的。光谱分析仪通过内置的参考光源,不仅通过了更好的波长准确性,而且使OSA具有实时校准功能。可轻松地对DWDM信号特性进行分析,同时可自动测试1250至1650nm波长范围内的有源和无源器件。可安装在FTB-400测试平台内,FTB-5240/5240B可提供满足实验室级精度要求的现场测试方案。
  • 光谱分析仪OSA)FTB-5240B具有实验室品质的便携式
  • 高ORR:在0.2nm时最高达到50dBc
  • 波长精确度:可达15pm
  • 强大的DWDM技术规格:极好的ORR、分辨率带宽、波长范围和动态范围,FTB-5240 光谱分析仪使用灵活,功能强大。
技术规范:
 
 
FTB-5240
FTB-5240B
光谱测量
 
 
 
光谱分析仪波长范围(nm)
 
1250至1650
1250至1650
分辩率带宽FWHM(nm)
 
0.065
0.033
波长不确定性(nm)
 
±0.05
±0.03
 
 
±0.015
±0.015
波长测量重复性(nm)
 
±0.003
±0.003
波长线性(nm)
典型
±0.01
±0.01
幅度测量
 
 
 
动态范围(dBm)
 
18至-75
18至-75
功率不确定性(dB)
 
±0.4
±0.4
光抑制比(dBc)
 
 
 
12.5GHz(±0.1nm)
典型
 
40
 
最小
 
35
25GHz(±0.2nm)
典型
40
50
 
最小
35
48
50GHz(±0.4nm)
典型
50
55
 
最小
45
50
PDL/1550nm(dB)
典型
±0.07
±0.07
 
最小
±0.15
±0.15
扫描时间(s)
 
<1.5(35nm径距、全分辩率、多波峰分析)
光回损(dB)
 
>35
>35

 

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